Program 4 Krajowego Sympozjum Użytkowników Promieniowania Synchrotronowego 

 

18 czerwca 1997 (środa)

10.30 Rozpoczęcie Sympozjum

10.45    G. Margaritondo; Photoemission Spectroscopy and Spectromicroscopy: the Growing Impact
                of Ultrabright Synchrotron Radiation
11.35    G. Margaritondo;  ELETTRA - charakterystyka i możliwości pomiarowe
11.55    Przerwa na ka
12.20    J. Härtwig;  X-Ray Synchrotron Radiation Imaging. New Features and Results
13.10    J. Härtwig;  ESRF - charakterystyka i możliwości pomiarowe

13.30    Obiad

15.00    B.J. Kowalski; DESY i HASYLAB - charakterystyka i możliwości pomiarowe
15.20    M. Stankiewicz; MAX-LAB i DARESBURY - charakterystyka i możliwości
15.40    W. Łużny; The Instrument 'Polyp' at Hasylab and its Applications in the Polymer Structures
                Investigations
16.00    J. Stanek, M. Stanek, Li Zhang, S.S. Hafner; High Pressure Study of Hedenbergite, CaFeSi2O6,
                Using Nuclear Forward Scattering of Synchrotron Radiation

16.20    Przerwa na kawę
17.00    Sesja plakatowa
19.30    Spotkanie towarzyskie
 

19 czerwca 1997 (czwartek)

  9.00    T. Cichocki;  Micro-pixe Technique as a Tool for Investigation of Biological Material Especially
                Undergoing Physiological and Pathological Mineralization
  9.50    K. Ławniczak-Jabłońska, R.C.C. Perera, L. Lin, T.A. Callcott, A. Asfaw, D.L. Edeler; Resonant
                Inelastic Scattering by Soft X-Ray Fluorescence
10.10    Cz. Kapusta; R. Mycielski, W. Kocemba, D. Ahlers, K. Attenkoffer, E. Goering, P. Fischer, G. Schuetz;
                X-MCD and NMR Study of the Mixed Valence Manganite La0.7Sr0.3MnO3
10.30    K. Ruebenbauer, U.D. Wdowik, M. Kwater, J.T. Kowalik; Non-resonant Quasi-elastic Bragg
                Scattering Amplitude from Single Crystals Containing Fast Diffusing Atoms
10.50    J. Pełka; X-Ray Reflectometry in Studies of Implantation Processes

11.10    Przerwa na kawę

11.40    A. Misiuk, J. Härtwig, J. Bąk-Misiuk, M. Tkacz; Investigation of Defect Creation in Si-SiO2
                System at Pressures up to 11 GPa
12.00    A. Ślebarski; Photoemission Study of the Valence Fluctuation of Ce Intermetallic Compounds
12.20  S. Kapral, J. Wolny; Structural Analysis of Hexagonal Layers in Higher Dimensions
12.40 J. Grochowski; Complementary Diffraction Techniques Using X-Ray Tube and Synchrotron Source

13.00    Zakończenie Sympozjum
13.10    Obiad

15.00    Walne Zebranie PTPS